Departamento de Física, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del I.P.N., México D.F., México
Laboratorio de Nanoestructuras Semiconductoras, Universidad Nacional de Colombia, Manizales, Colombia
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Copyright © 2015 Miguel Ángel Venegas, Roberto Bernal- Correa, Máximo López- López, Álvaro Pulzara- Mora et al. This is
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How to Cite this Article
Venegas, M. , Correa, R. , López, M. and Mora, Á. (2015) Atomic Force Microscopy Studies on GaAs/In Bilayers Deposited on Si (100).
Microscopy Research,
3, 6-16. doi:
10.4236/mr.2015.31002.